Marknadens största urval
Snabb leverans

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Om Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781783265282
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 432
  • Utgiven:
  • 18. maj 2015
  • Utgåva:
  • 2
  • Mått:
  • 160x238x23 mm.
  • Vikt:
  • 802 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 17. december 2024

Beskrivning av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

Användarnas betyg av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)



Hitta liknande böcker
Boken Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.