Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Vetenskap
  5. Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

av Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science, Technology (Empa) Erni
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction av Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science
Om Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781848165366
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 348
  • Utgiven:
  • 1. september 2010
  • Mått:
  • 175x254x20 mm.
  • Vikt:
  • 768 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 19. december 2024
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025

Om Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science

Se alla böcker av Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science

Beskrivning av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction

Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.

Användarnas betyg av Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.