Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Conductive Atomic Force Microscopy

Conductive Atomic Force Microscopy

- Applications in Nanomaterials

av M Lanza
Conductive Atomic Force Microscopy av M Lanza Du sparar 15% jf.m. förlagspris Spara 15%
Om Conductive Atomic Force Microscopy

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783527340910
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 384
  • Utgiven:
  • 11. oktober 2017
  • Mått:
  • 251x176x25 mm.
  • Vikt:
  • 978 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 12. augusti 2025

Om M Lanza

Se alla böcker av M Lanza

Beskrivning av Conductive Atomic Force Microscopy

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

Användarnas betyg av Conductive Atomic Force Microscopy



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Conductive Atomic Force Microscopy finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.