Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Vetenskap
  5. Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

del av NanoScience and Technology-serien

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
Om Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783030156145
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 408
  • Utgiven:
  • 25. augusti 2020
  • Utgåva:
  • 12019
  • Mått:
  • 155x235x0 mm.
  • Vikt:
  • 652 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 24. december 2024
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025

Beskrivning av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Användarnas betyg av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.