Marknadens största urval
Snabb leverans

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Om Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783030156145
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 408
  • Utgiven:
  • 25 Augusti 2020
  • Utgåva:
  • 12019
  • Mått:
  • 155x235x0 mm.
  • Vikt:
  • 652 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 22 Oktober 2024

Beskrivning av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

Användarnas betyg av Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics



Hitta liknande böcker
Boken Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.