Marknadens största urval
Snabb leverans

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

- Theory, Algorithms, and Applications

Om Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783527411528
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 344
  • Utgiven:
  • 2. juli 2014
  • Mått:
  • 175x250x22 mm.
  • Vikt:
  • 898 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 14. augusti 2025

Beskrivning av Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology.

Användarnas betyg av Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology



Hitta liknande böcker
Boken Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.