Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Vetenskap
  5. Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

- Instrumentation, Data Analysis and Applications

av Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials av Andrew T. S. (National University of Singapore Wee
Om Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783527349517
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 208
  • Utgiven:
  • 13. april 2022
  • Mått:
  • 246x173x11 mm.
  • Vikt:
  • 414 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 18. december 2024

Om Andrew T. S. (National University of Singapore Wee

Se alla böcker av Andrew T. S. (National University of Singapore Wee

Beskrivning av Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.

Användarnas betyg av Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.