Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

av Ricardo Reis, Alexandra Zimpeck, Cristina Meinhardt, Laurent Artola
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs av Ricardo Reis
Om Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783030683672
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 131
  • Utgiven:
  • 11. mars 2021
  • Utgåva:
  • 12021
  • Mått:
  • 155x235x0 mm.
  • Vikt:
  • 454 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 28. januari 2025
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025
  •  

    Kan ej levereras före jul.
    Köp nu och skriv ut ett presentkort

Om Ricardo Reis

Se alla böcker av Ricardo Reis

Beskrivning av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs

transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells.

Användarnas betyg av Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.