Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

av Pierre-Richard Dahoo
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light av Pierre-Richard Dahoo
Om Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781848219366
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 316
  • Utgiven:
  • 12 Augusti 2016
  • Mått:
  • 165x241x23 mm.
  • Vikt:
  • 612 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 29 Oktober 2024

Om Pierre-Richard Dahoo

Se alla böcker av Pierre-Richard Dahoo

Beskrivning av Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Användarnas betyg av Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.