Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Radiation-induced Soft Error

Radiation-induced Soft Error

- A Chip-level Modeling

av Norbert Seifert

del av Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation-serien

Radiation-induced Soft Error av Norbert Seifert
Om Radiation-induced Soft Error

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781601983947
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 136
  • Utgiven:
  • 27. november 2010
  • Mått:
  • 157x234x8 mm.
  • Vikt:
  • 210 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 9. december 2024

Om Norbert Seifert

Se alla böcker av Norbert Seifert

Beskrivning av Radiation-induced Soft Error

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

Användarnas betyg av Radiation-induced Soft Error



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Radiation-induced Soft Error finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.