Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Semiconductor Material and Device Characterization

Semiconductor Material and Device Characterization

av Dieter K. (Arizona State University) Schroder

del av Wiley - IEEE-serien

del av IEEE Press-serien

Semiconductor Material and Device Characterization av Dieter K. (Arizona State University) Schroder
Om Semiconductor Material and Device Characterization

This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9780471739067
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 800
  • Utgiven:
  • 17. februari 2006
  • Utgåva:
  • 3
  • Mått:
  • 243x164x51 mm.
  • Vikt:
  • 1324 g.
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 18. december 2024

Om Dieter K. (Arizona State University) Schroder

Se alla böcker av Dieter K. (Arizona State University) Schroder

Beskrivning av Semiconductor Material and Device Characterization

This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.

Användarnas betyg av Semiconductor Material and Device Characterization



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Semiconductor Material and Device Characterization finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.