Marknadens största urval
Snabb leverans

Soft Error Reliability of VLSI Circuits

- Analysis and Mitigation Techniques

Om Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9783030516093
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 114
  • Utgiven:
  • 14. oktober 2020
  • Utgåva:
  • 12021
  • Mått:
  • 155x235x0 mm.
  • Vikt:
  • 454 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 29. januari 2025

Beskrivning av Soft Error Reliability of VLSI Circuits

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

Användarnas betyg av Soft Error Reliability of VLSI Circuits



Hitta liknande böcker
Boken Soft Error Reliability of VLSI Circuits finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.