Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

av Chakrabarty Krishnendu

del av Devices, Circuits, and Systems-serien

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits av Chakrabarty Krishnendu
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781138075771
  • Format:
  • Häftad
  • Sidor:
  • 264
  • Utgiven:
  • 29. mars 2017
  • Mått:
  • 156x234x0 mm.
  • Vikt:
  • 453 g.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 18. december 2024

Om Chakrabarty Krishnendu

Se alla böcker av Chakrabarty Krishnendu

Användarnas betyg av Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.