Marknadens största urval
Snabb leverans

X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

Om X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.

Visa mer
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781860943607
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 316
  • Utgiven:
  • 8. juli 2003
  • Utgåva:
  • 2
  • Mått:
  • 230x154x24 mm.
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 19. december 2024
Förlängd ångerrätt till 31. januari 2025

Beskrivning av X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)

A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.

Användarnas betyg av X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)



Hitta liknande böcker
Boken X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition) finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.