Marknadens största urval
Fri frakt över 199 kr
Snabb leverans
Hjälp
Logga in
  1. Hem
  2. Böcker
  3. Företagande & lärande
  4. Vetenskap
  5. Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

av Sarah Fearn

del av IOP Concise Physics-serien

Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science av Sarah Fearn
  • Språk:
  • Engelska
  • ISBN:
  • 9781643279107
  • Format:
  • Inbunden
  • Sidor:
  • 66
  • Utgiven:
  • 16 Oktober 2015
  Fri leverans
Leveranstid: 2-4 veckor
Förväntad leverans: 22 Juli 2024

Om Sarah Fearn

Se alla böcker av Sarah Fearn

Användarnas betyg av Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science



Andra köpte även...
Hitta liknande böcker
Boken Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science finns i följande kategorier:

Gör som tusentals andra bokälskare

Prenumerera på vårt nyhetsbrev för att få fantastiska erbjudanden och inspiration för din nästa läsning.